Sensofar S wide 3D光学轮廓仪

Sensofar S wide 3D光学轮廓仪


工业测量解决方案 采集只需一秒钟。利用 S wide 的条纹投影技术和一系列不同的采集模式,可以优化测量以实现超高的量测效率。

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产品详情


数字变焦功能,可捕捉样品的各种细节。 


工业测量解决方案 采集只需一秒钟。利用 S wide 的条纹投影技术和一系列不同的采集模式,可以优化测量以实现超高的量测效率。


生产质量保证


易于使用 


使用 S wide 进行测量非常简单:加载样品、设置方法以及检查结果。 


高分辨率 3D 成像 


捕捉每个细节 


这款 3D 扫描仪配备 500 万像素彩


大型设置  


借助 300 x 300 毫米的平台配置,可测量大量样品阵列和大面积区域。


精密光学测量 


亚微米级重复性 


S wide 采用专有的条纹投影算法,可实现微米级精度,在大面积的测量表面上提供无与伦比的亚微米高度重复性。 


高级软件工具 


高效的数据提取 


S wide 配备了一套分析工具,可以从测量数据中提取每条信息:粗糙度和平整度参数、关键尺寸、GD&T 和 CAD 比较。