首页
产品中心
物性测试
测量仪器
耗材
金相分析
理化分析
合作品牌
产品应用
行业应用
应用实景
新闻动态
公司新闻
行业资讯
关于我们
联系我们
027-8700 1288
S wideLarge Area 3D Profiler
S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。
电话:
027-8786 1882
您的位置:
首页
>
显微观察
>
S wideLarge Area 3D Profiler
产品详情
S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。
关键词:
S wideLarge Area 3D Profiler
上一篇:
s neox 3D optical profiler
下一篇:
MSX10 显微相机
同类产品
MZ62 采用优质光学系统设计
2026-04-19
明美 MZ101 体视显微镜
2026-04-19
明美 MJ31 金相显微镜
2026-04-19
明美 MJ33 透反射明暗场金相显微镜
2026-04-19