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opticline c1000 测量系统

OPTICLINE 测量技术采用光电阴影成象原理全自动探测需测量的工件。由于单个测量值的测量分辨率高，所以整个工件轮廓的分析速度快，精度高。
2026-03-22
业纳 Opticline C2000 /900/1000 轴类光学测量仪

系列的 Opticline C 轴测量系统可提供 1 μm 以上极高的量具能力。可以选用不同的配置等级，例如高精度 C 轴或者多传感器，针对您的需求调整性能。Opticline C 系列具有极高的灵活性，同时还有极高的精度和稳定性。
2026-03-22