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X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。
本文阐述了地质科学家如何运用一台偏振光显微镜对经过或未经过制备的样品进行分析的：这就是Leica DVM6 M 数码显微镜。选用适当的配件，该显微镜即可化身为半定量型偏振显微镜。
